簡要描述:LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng)LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
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品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,綜合 |
LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng)
該介電常數(shù)儀測試系統(tǒng)由測試裝置(夾具)、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和自動測量控件以及電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。
系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的&佳解決方案。
工作特性
1. 平板電容器:
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
工作原理
本測試裝置主要由一個數(shù)顯的微測量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數(shù)顯的微測量裝置,用于顯示被測材料樣品的厚度。陪測設(shè)備介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為調(diào)諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的Q值變化,可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時,由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。
北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司生產(chǎn)經(jīng)營多種型號介電常數(shù)儀,具體如下:
LDJD-C型
LDJD-B型
LDJD-A型
LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng)
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